Özellikler

• MEMS ve wafer probu için kolay entegre olur.
• Basit ve sezgisel işlemler, birkaç dakikada ölçüme hazır
• Kısa ölçüm döngüsü ile artırılmış üretim performansı
• Ürün geliştirme, sorun giderme ve üretim evrelerini hızlandırır
• Rezonans ve statik topografi için hızlı tanımlama ve görüntüleme sağlar